Estudo de Defeitos em Dispositivos Semicondutores por Catodoluminescência
Martins, Ricardo Benetton
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Disponibilidade:
Produto Esgotado.
Sinopse
A obra fala da utilização do microscópio cletiônico de varredura (MEV) na pesquisa de materiais semicondutores e de dispositivos semicondutores.
Ficha Ténica
Editora: UNICAMP
Especialidade: QUIMICA
ISBN: 9788526801295
Páginas: 0118
Ano: 1999
Edição: 1
Encadernação: Capa comum
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